| Lez. 1. |
(Proff. Ferraris, Taroni, Offelli) Introduzione - Il processo conoscitivo
sperimentale |
| Lez. 2. |
(Prof. Ferraris) Le incertezze nel procedimento di misurazione (Lez. 2 ME) |
| Lez. 3. |
(Prof. Ferraris) Misurazioni dirette - Misurazioni indirette (parte I) (Lez. 3
ME) |
| Lez. 4. |
(Prof. Ferraris) Misurazioni indirette (parte II) - Esempi di stima di incertezze
(Lez. 4 ME) |
| Lez. 5. |
(Prof. Ferraris) Le resistenze di contatto - La caratterizzazione metrologica di
un dispositivo per misurazione (Lez. 5 ME) |
| Lez. 6. |
(Prof. Ferraris) Il Sistema Internazionale di unità di misura S.I. (Lez. 6 ME) |
| Lez. 7. |
(Prof. Ferraris) L'organizzazione internazionale della metrologia - Diagramma di
produzione di una misura (parte I) (Lez. 7 ME) |
| Lez. 8. |
(Prof. Ferraris) Diagramma di produzione di una misura (parte II) (Lez. 8 ME) |
| Lez. 9. |
(Prof. Taroni) Strumentazione elettrica di misura |
| Lez. 10. |
(Prof. Taroni) Principi di funzionamento dei sensori |
| Lez. 11. |
(Prof. Taroni) Sensori resistivi (parte I) |
| Lez. 12. |
(Prof. Taroni) Sensori resistivi (parte II) |
| Lez. 13. |
(Prof. Taroni) Sensori induttivi e capacitivi |
| Lez. 14. |
(Prof. Taroni) Condizionamento dei segnali provenienti dai sensori |
| Lez. 15. |
(Prof. Taroni) Esercitazione di laboratorio: Realizzazione e taratura di un
sensore estensimetrico (parte I) (Lez. 21 ME) |
| Lez. 16. |
(Prof. Taroni) Esercitazione di laboratorio: Realizzazione e taratura di un
sensore estensimetrico (parte II) (Lez. 22 ME) |
| Lez. 17. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici: Struttura generale - Il tubo a raggi
catodici - La deflessione (Lez. 23 ME) |
| Lez. 18. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici: La deflessione orizzontale - La
sincronizzazione - La base dei tempi (Lez. 24 ME) |
| Lez. 19. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici: La base dei tempi ritardata -
Oscilloscopi a doppia traccia - Le sonde (Lez. 25 ME) |
| Lez. 20. |
(Prof. Offelli) Esercitazione di laboratorio: Caratterizzazione di un
amplificatore a larga banda (Lez. 26 ME) |
| Lez. 21. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Struttura generale - Visualizzazione -
Campionamento |
| Lez. 22. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Il campionamento dei segnali periodici
- La memoria di acquisizione - La selezione dei campioni |
| Lez. 23. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La selezione dei campioni - La
decimazione - I time-slot |
| Lez. 24. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La selezione dei campioni acquisiti in
tempo equivalente - I time-slot |
| Lez. 25. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La selezione dei campioni acquisiti in
tempo equivalente - Il blocco di ingresso - Il blocco di conversione |
| Lez. 26. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Il blocco interpolatore - L'evento di
trigger |
| Lez. 27. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La visualizzazione |
| Lez. 28. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Analisi delle specifiche tecniche
fornite dai costruttori - Prestazioni caratteristiche (Lez. 32 ME) |
| Lez. 29. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Prestazioni caratteristiche -
Strumentazione numerica: I contatori (Lez. 33 ME) |
| Lez. 30. |
(Prof. Offelli) Strumentazione numerica: Misurazione di frequenza - Misurazione
di intervalli di tempo (Lez. 34 ME) |
| Lez. 31. |
(Prof. Offelli) Strumentazione numerica: I voltmetri multirampa (Lez. 35 ME) |
| Lez. 32. |
(Prof. Offelli) I multimetri numerici: La misurazione di tensioni e correnti - La
misurazione di resistenze (Lez. 36 ME) |
| Lez. 33. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di stati logici: Funzione dello strumento -
Schema a blocchi - Acquisizione - Clock - Memoria (Lez. 37 ME) |
| Lez. 34. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di stati logici: Modalità di visualizzazione -
Predisposizione dello strumento - Procedure di test (Lez. 38 ME) |
| Lez. 35. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di stati logici: Procedure di test (Lez. 39 ME) |
| Lez. 36. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro: Composizione spettrale di un segnale
- Possibili architetture di un analizzatore di spettro - La traslazione in frequenza |
| Lez. 37. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro: La traslazione in frequenza - I
prodotti di intermodulazione |
| Lez. 38. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro: I prodotti di intermodulazione - Il
filtro selettivo - Velocità di spazzolamento |
| Lez. 39. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro: Velocità di spazzolamento - Campi
di frequenza analizzabili - Discriminazione - Rivelazione visualizzazione |
| Lez. 40. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro: L'errore di leakage - La risoluzione
in frequenza - Le unità di misura |
pited@pitagoragroup.it