| Lez. 1. |
(Prof. Ferraris) Introduzione al corso. Definizioni. Il procedimento
conoscitivo sperimentale |
| Lez. 2. |
(Prof. Ferraris) Le incertezze nel procedimento di misurazione (lez. 2 ME) |
| Lez. 3. |
(Prof. Ferraris) Misurazioni dirette. Misurazioni indirette (parte I)
(lez. 3 ME) |
| Lez. 4. |
(Prof. Ferraris) Misurazioni indirette (parte II). Esempi di stima di
incertezze (lez. 4 ME) |
| Lez. 5. |
(Prof. Ferraris) Le resistenze di contatto. La caratterizzazione
metrologica di un dispositivo per misurazione (lez. 5 ME) |
| Lez. 6. |
(Prof. Ferraris) Il Sistema internazionale di unità di misura S.I. (lez.
6 ME) |
| Lez. 7. |
(Prof. Ferraris) L'organizzazione internazionale della metrologia.
Diagramma di produzione di una misura (parte I) (lez. 7 ME) |
| Lez. 8. |
(Prof. Ferraris) Diagramma di produzione di una misura (parte II) (lez. 8
ME) |
| Lez. 9. |
(Prof. Taroni) Strumenti indicatori (parte I) (lez. 9 ME) |
| Lez. 10. |
(Prof. Taroni) Strumenti indicatori (parte II) (lez. 10 ME) |
| Lez. 11. |
(Prof. Taroni) Amperometri, Voltmetri e strumenti a ponte (lez. 11 ME) |
| Lez. 12. |
(Prof. Taroni) Metodi a ponte e metodi potenziometrici (lez. 12 ME) |
| Lez. 13. |
(Prof. Taroni) Strumentazione elettrica di misura (lez. 9 SE) |
| Lez. 14. |
(Prof. Taroni) Principi di funzionamento dei sensori (lez. 10 SE) |
| Lez. 15. |
(Prof. Taroni) Sensori resistivi (parte I) (lez. 11 SE) |
| Lez. 16. |
(Prof. Taroni) Sensori resistivi (parte II) (lez. 12 SE) |
| Lez. 17. |
(Prof. Taroni) Sensori induttivi e capacitivi (lez. 13 SE) |
| Lez. 18. |
(Prof. Taroni) Condizionamento dei segnali provenienti dai sensori (lez.
14 SE) |
| Lez. 19. |
(Prof. Ferrero) Strumenti elettronici analogici (parte I) |
| Lez. 20. |
(Prof. Ferrero) Strumenti elettronici analogici (parte II) |
| Lez. 21. |
(Prof. Ferrero) Strumenti numerici |
| Lez. 22. |
(Prof. Ferrero) Strumenti numerici |
| Lez. 23. |
(Prof. Ferrero) Strumenti numerici |
| Lez. 24. |
(Prof. Ferrero) Strumenti numerici |
| Lez. 25. |
(Prof. Ferrero) Trasformatori di misura |
| Lez. 26. |
(Prof. Ferrero) Trasformatori di misura |
| Lez. 27. |
(Prof. Ferrero) Misure su sistemi monofase |
| Lez. 28. |
(Prof. Ferrero) Misure su sistemi trifase (teoremi) |
| Lez. 29. |
(Prof. Ferrero) Misure su sistemi trifase (metodo generale) |
| Lez. 30. |
(Prof. Ferrero) Misure di energia (parte I) |
| Lez. 31. |
(Prof. Ferrero) Misure di energia (parte II) |
| Lez. 32. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici: Struttura generale. Il tubo a
raggi catodici. La deflessione |
| Lez. 33. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici: La deflessione orizzontale. La
sincronizzazione. La base dei tempi (lez. 24 ME) |
| Lez. 34. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi analogici. La base dei tempi ritardata.
Oscilloscopi a doppia traccia. Le sonde (lez. 25 ME) |
| Lez. 35. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La struttura generale. La
conversione A/D. La memoria di acquisizione (lez. 27 ME) |
| Lez. 36. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Tecniche di campionamento. I
segnali ripetitivi. Utilizzazione della ripetitività. Il campionamento asincrono o random
(lez. 28 ME) |
| Lez. 37. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La decimazione. Scopo del
trigger e hold-off. Due livelli di trigger. Condizioni temporali (lez. 29 ME) |
| Lez. 38. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: Pattern di trigger. Il blocco
di ingresso. Il tubo raster (lez. 30 ME) |
| Lez. 39. |
(Prof. Offelli) Gli oscilloscopi digitali: La visualizzazione. Limitazioni
nella visualizzazione per punti. Tecniche di ricostruzione (lez. 31 ME) |
| Lez. 40. |
(Prof. Offelli) Gli analizzatori di spettro. Voltmetri selettivi.
Analizzatori di spettro analogici. Analizzatori di spettro digitali (lez. 40 ME) |
pited@pitagoragroup.it